Cart

Меню

Лабораторная установка “Изучение дифракции света” (2 рабочих места)

270 710 

Запросить ТЗ
“Установка предназначена для изучения курса “Оптика” в старших классах средней школы а так же в учебных заведениях средне-специального и высшего образования. Установка позволяет изучать период дифракционной решётки при использовании ртутной лапмы, или же измерять область пропускания светофильтров в случае использования галогенной лампы. Установка представляет собой две оптические скамьи на которых... читать далее

Description

“Установка предназначена для изучения курса “Оптика” в старших классах средней школы а так же в учебных заведениях средне-специального и высшего образования. Установка позволяет изучать период дифракционной решётки при использовании ртутной лапмы, или же измерять область пропускания светофильтров в случае использования галогенной лампы.
Установка представляет собой две оптические скамьи на которых неподвижно установлены источники света, на одной скамье установлена галогеновая лампа в металлическом корпусе, на второй установлена ртутная лампа в аналогичном корпусе. Так же на скамьях присутствуют подвижные дифракционные решётки, линейки. А скамья с галогеновой лампой имеет на себе установленный в подвижном держателе набор светофильтров.
Состав: 2 оптические скамьи изготовленные из металла покрытого порошковой краской, галогеновая лампа в металличепском корпусе, ртутная лампа в металлическом корпусе, единый блок питания с возможностью одновременного подключения и работы двух источников света, 2 дифракционные решетки, экраны-линейки, набор стационарных и подвижных рейтеров.
Технические характеристики:
– Питание галогенной лампы: 12В
– Питание ртутной лампы: 20В
– Кратковременный импульс высокого напряжения при запуске ртутной лампы: 200В
– Количество светофильтров: 3
– Дифракционные решётки изготовленные методом нано-гравивровки: 2 шт.
– Период дифракционных решёток: 300 линий на миллиметр.
– Электропитание: 220В 50Гц
– Потребляемая мощность: 200Вт
Проводимые лабораторные работы:
1. Исследование линейчатого спектра, определение постоянной дифракционной решетки
2. Исследование сплошного спектра, определение области прозрачности светофильтра в видимой части спектра с помощью дифракционной решетки.”

-Техническая документация

Ваш телефон:

Ваша email:

Сообщение:

Этот сайт защищен с помощью reCAPTCHA и Google Политика конфиденциальности и Применяются условия предоставления услуг.